鐵譜分析技術與濾膜鐵譜分析技術鐵譜分析是識別磨損模式和機械故障根本原因的強大技術。鐵譜分析是一個深入的、結論性的測試，因為它使用熱處理技術和偏振光技術可以識別金屬的不同類型、顆粒顏色、表面和形態(tài)，并可判斷磨損產生原因和機理。鐵譜根據(jù)譜片制備，可分為濾膜鐵譜和分析鐵譜。

       進行鐵譜分析的最大缺點是它既耗時又需要依賴專業(yè)人士來進行分析。這種技能只有工作多年分析了大量鐵譜圖的專業(yè)技術人員才具有。鐵譜技術需要與其他更快的篩選技術相結合才能獲得成功。單獨使用鐵譜技術檢測常規(guī)樣品并不可靠和實際。

       SEM EDX技術使用非常高的放大率來觀察和檢查顆粒，并使用EDX裝置對顆粒進行元素分析。與傳統(tǒng)的金相顯微鏡相比，SEM的景深要大得多。這種景深增強意味著粒子可以在高放大倍數(shù)下保持聚焦，用戶可得到更多的細節(jié)。與標準磨損顆粒分析類似，使用光學顯微鏡SEM EDX不適合進行常規(guī)樣品分析。該儀器昂貴并且該技術涉及一些樣品制備，例如對樣品施加導電涂層以提高完整鐵譜分析的分辨率。然而如果需要識別問題的根本原因或需要進一步確證，建議進行完整鐵譜分析。